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LT-9000系列雙掃描雷射測定器
雙掃描雷射測定器
產品索引

高精密度雷射測定器

•  高精密度雙掃描方式
•  0.01 µm 的高解析度可測定所的對象物
•  追求現場操作的便利性
•  使用途更為廣泛的多樣化測定模式
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
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LT-9000系列高精密度雷射測定器

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雙掃描測定器

雙掃描

高精密度的雙掃描模式,可應用在所有工件上的測量。


Z 軸掃描

Z 軸掃描

利用共焦點和音叉的高精密度測定方式。以往的10 倍。


X 軸掃描

X 軸掃描

追求功能性和穩定性的橫向掃描模式。利用搖動元件進行高精密度掃描。


便於設定

便於設定

追求現場操作的便利性。以優異的操作性能來提供後備支援。


雙掃描測定器應用

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微細工件

微細工件

利用同軸模式的微點雷射,測定微細點位


透明工件

透明工件

根據共焦點原理,可以穩定地測定透明體的表面、膜厚、厚度。


粗面工件

粗面工件

由雷射掃描模式的光量估算功能,實現高度的穩定性


角度測定

角度測定

由掃描定點後所得之複數點測定值,以0.01 度為單位來測量角度。


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