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| 產品特點 |
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ABLE 功能實現了對所有物體的準確量測 |
表面技術和全新的量測演算法 |
| 欲取得詳細產品訊息，請點選右上方CATALOG圖示，下載產品型錄。 |
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量測漫射、透明和半透明物體。 |
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| 量測多重反射物體已不再是問題 |
| 傳統雷射位移感測器在量測透明和半透明物體，以及發生多重反射的物體時非常不穩定，但由於有了ABLE表面技術和全新的量測演算法，現在對這些物體的實現高精度量測不再是夢想。 |
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ABLE* |
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| 藉由感測表面情況將雷射強度控制到最佳狀態。 |
ABLE技術能夠感測物體表面並將雷射強度調整到最佳狀態。ABLE可以對雷射發射時間、雷射功率以及增益（CCD放大係數）這三種要素進行智慧控制，實現了傳統型號90倍的光強度調整範圍。此外，它藉由高性能CPU進行即時控制，使速度達到傳統型號的120倍。因此，即使物體表面狀態變化無常也能進行精確的檢測。
*ABLE＝ Active Balanced Laser control Engine |
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RPD* 算法 |
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| 以極高的精度量測半透明塑膠物體的表面。 |
RPD 演算法可以消除由進入物體的擴散反射所產生的接收光波形的逐步擴大，隨後準確地檢測真實峰值的位置（實際峰值）
* RPD＝ Real Peak Detect |
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多重ABLE控制l |
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| 使多個透明物體表面上的雷射發射量達到最佳水準。 |
| 藉由使透明物體各層的雷射強度達到最佳並同步各層的波形，從而使得高精度量測能夠不受任何傳輸因素或反射率的影響。（專利申請中） |
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MRC* 算法 |
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| 消除金屬面的多重反射 |
多重反射會產生兩個或更多的峰值，此時MRC演算法會把這些波形與最新的接收光波形進行比較，然後決定一個與“正確波形”最為相似的波形。
（專利申請中）* MRC＝ Multiple Reflection Cancel |
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寬光點光學系統 |
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| 可根據目標物和應用需求進行選擇 |
有兩種直徑的光點可供選擇：
* 寬光點型的特色在於全新設計的圓柱形物鏡，它可在刻有圖案的表面上進行穩定的量測。
* 小光點型的特色在於一個清晰的直徑為30 µm大小的光點，它適用於量測小物體。
根據您的應用需求選擇最合適的級型 |
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量測應用簡介
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| 有關高精度非接觸式量測的『位置控制』、『厚度量測』以及『輪廓/翹曲量測』的知識集合。 |
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| 相關產品下載 |
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雷射位移感測器
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