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LK-G 系列 CCD雷射位移感測器
支援和服務
爲鋼鐵加工業提供更經濟,100%可靠的量測
非接觸式量測儀器減少了不良品的數量,提供100%的檢測
產品特點

高速、高精度、長距離

創新的CCD雷射位移感測器

欲取得詳細產品訊息,請點選右上方CATALOG圖示,下載產品型錄。

超高速 - LK-G10/G15 系列

超高速感測器,重覆精度高達0.01µm
超高速 - LK-G10/G15 系列

高精度 - LK-G30/G35 系列

可準確量測透明物體,塑膠和金屬制品。
高精度 - LK-G30/G35 系列

高穩定性 - LK-G80/G85系列 (多種用途)

新技術在需要長距離量測的情況下為高精度的應用提供了更好的穩定性。
高穩定性 - LK-G80/G85系列 (多種用途)

長距離 - LK-G150/G155 系列

集高精度、長距離和最快的取樣速度於一身.量測範圍: 150 ±40 mm
長距離 - LK-G150/G155 系列

高速、長距離 - LK-G400/G405 系列

集高精度、長距離和最快的取樣速度於一身.量測範圍: 400 ±100 mm
高速、長距離 - LK-G400/G405 系列

超長距離 - LK-G500/G505 系列

高精度、高速、超大範圍。傳統型號之1.5倍大範圍量測:最遠達1000mm
超長距離 - LK-G500/G505 系列

50 kHz的超高取樣速度

[所有型號: LK-G10/15/30/35/80/85/150/155/400/405/500/505]
比傳統型號快25倍的高速取樣是Li-CCD的一大特色。由專用波形處理器(數位信號處理器)對發自Li-CCD的信號進行高速數位處理,能夠滿足高速量測和高精度量測的要求。可以對高速移動,高速轉動或高速振動的物體進行可靠的量測。
量測高速旋轉中的HDD的表面偏擺

±0.03 %的高精確度

[型號: LK-G10/15]
KEYENCE 對光學系統進行重新設計,以實現高精度的量測。Ernostar 光學系統和Li-CCD 的結合能夠產生極為出色的線性特性。
量測矽晶片的厚度

0.01 µm的重覆精度※

[型號: LK-G10/15]
整合在感測頭中的CPU能夠把發至控制器的所有信號數位化,大大減少了干擾噪音。高硬度模鑄機身是用於減少因溫度變化而產生的偏差,而靈敏度是傳統型號10倍的Li-CCD可減少信號雜音。這些設計上的改進以高精度應用為目標,成功地使重覆精度達到傳統型號的20倍。
※ 不需申請日本出口許可的機型重覆精度為0.3μm或0.6μm,分別包括LK-G10H/G15H/G30H/G35H和LK-G150H/G155H。
控制高精度處理平台的位置

高精度物鏡模組

減少像差造成的錯誤
KEYENCE設計了一種新型的光線接收單元,用於將接收光聚集到Li-CCD 上。該全新研制的高精度Ernostar 物鏡極大地減少了因像差所造成的光點扭曲。此外,它還採用了整合感測頭和物鏡的專用模鑄外殼,具有極強的硬度。
高精度Ernostar Lens 的結構圖
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研發:量測與應用指南。
 
使用 2D 雷射量測的先進技術。
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