表面掃描雷射共焦位移計

LT-9000 系列

高精密度雙掃描雷射

高解析度,穩定並多功能檢測

高精密度並穩定的雙掃描方式

高精密度雙掃描方式

世界首創2軸掃描

整合了音叉元件和搖動元件的高精密度雙掃描方式、不受材質、顏色、或是傾斜度影響之位移‧外形測定器誕生了。

Z 軸掃描

音叉元件的共焦點方式,實現高精密度的測量。

X 軸掃描

搖動元件的橫向掃描方式,追求用途和穩定性的表現。

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