表面掃描雷射共焦位移計

LT-9000 系列

透明工件

在自動化應用和感側應用中無可挑剔的表現。

透明體測定

透明體測定

透明工件體測定

LT-9000系列可以測量表面情況、膜厚以及透明物體的厚度。此外,它的傾斜校正功能使得測量更爲可靠。它還可以精確測量光碟的中間層。

測量電阻膜厚

測量電阻膜厚

測量電阻膜厚

LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計可用於測量混合晶片電阻上的電阻元件的膜厚。測量時的解析度最大可以達到0.01m。LT-9000有著獨一無二的高精度表面掃描方式,因而可以穩定的測量厚度,不會受到陶瓷表面的材質和電阻元件表面的影響。

測量透明塗層

測量透明塗層

測量透明塗層

使用LT-9000系列表面掃描鐳射共軛焦位移計無需物理接觸就可以測量板上透明塗層的厚度。測量時的解析度最大可以達到0.01m。LT-9000有著獨一無二的高精度表面掃描方式,因而可以抓住透明物體的前表面和後表面進行厚度測量。此外,在不同的表面情況或材質下依然能保持精確性不變。

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