高精度2D雷射位移感測器

LJ-G 系列

高精度量測

KEYENCE雷射位移感測器技術專為2D而進化。這些獨特的技術實現了高精度量測。

2D雷射位移感測器

量測原理

2D三角量測法

2D三角量測法

柱面物鏡將雷射光束擴大為條狀,隨後雷射在目標物上產生散射。反射光被聚焦在E3-CMOS上,藉此量測位移或物體輪廓。

LJ-G可量測E3-CMOS安裝的任何物質 [世界首創]

CMOS感測器

E3-CMOSE3-CMOS影像感測器專為影像系統而設計,動態範圍是傳統感測器的300倍,並具備可靠的S/N比率。這樣就能量測諸如黑橡膠(反射率低)及金屬(反射率高)等物體。

雷射反射

雷射反射

光強度

光強度

輪廓量測

輪廓量測

MFL針對目標物調整雷射功率 [同級首創]

多重靈活邏輯

MFL透過感測目標物表面來調整雷射功率。E3-CMOS的動態範圍是傳統機型的300倍。優化後的雷射功率可在任何條件下截取目標物。
*MFL: 多重靈活邏輯

高精度2D Ernostar物鏡 [全新]

2D Ernostar物鏡

光接收物鏡元件經過重新設計,可以2D方式完整捕獲反射雷射光束。Ernostar物鏡由四個鏡片組成,可減少影像失真。這樣就可以獲得更精確的2D輪廓。

推薦本頁訪客參考的技術資料

    量測應用指南

    量測數據庫

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