CCD雷射位移感測器

LK 系列

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超精度CCD雷射位移感測器

獨特光學系統減小透鏡的像差

高精度量測

LK系列利用最新開發的CCD作為接收光線的元件,並用32位元之超高速RISC處理器進行訊號處理,不論目標物體表面性質如何,均可提供高精度量測。利用LK-031能獲得F.S.之±0.1%的1μm直線性之重覆精度。

30μm直徑的可見雷射射束光點

KEYENCE之獨特光學系統使透鏡的像差達到最小,從而使LK-031具有30μm直徑之最小點直徑。利用此特點可精確地量測目標物體的表面輪廓。

新型光學系統與較寬廣的雷射光點(LK-036/LK-086)

寬廣的雷射光點

藉由平均細微粗造表面的目標物所散亂反射的光線來防止資料的波動。可以確保在如有髮線等或毛邊或毛刺等表面上做安定的測量。

測量鏡面以及透明物體(LK-011)

寬廣的雷射光點

在鏡面模式, 可以測量鏡面物體以及透明物體。就算對象物體從鏡面物體改變成透明物體,亦可保證安定的測量。

穩定地量測各種不同目標物體的表面

專利審查中的LFTC電路能量測多種色彩或式樣的目標。無需另外調節即可量測黑色橡膠等低反射率的目標。

感測頭為IP-67之等級

即使是在製造工序等嚴苛環境下,亦可獲得精確的量測結果。

CCD雷射位移感測器使用三角形量測系統。

以前的雷射位移感測器利用PSD(位置感測檢測器)作為接收光線的元件。而LK系列利用CCD作為接收光線的元件。目標物體反射的光線穿過接收器的透鏡,接收器的透鏡將光線聚焦在PSD或CCD上。PSD型感測器利用PSD上的所有射束光點之光量分布來決定射束光點的中心,並由此判定目標位置。但是,光量分布會受目標物體的表面狀況影響,造成量測值的變動。CCD檢測射束光點之光量分布峰值處的像素,並將此判定為目標位置。所以,無論射束光點之光量如何分布,CCD均能獲得穩定且高精度的結果。

三角形量測系統

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