超高速/ 高精度 CMOS 雷射位移感測器

LK-G5000 系列

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感測頭 光點型 LK-H008

LK-H008 - 感測頭 光點型

*為協助用戶了解產品用途及安裝方式,產品圖片中可能包含加購配件。

軟體

  • CE Marking

產品規格

型號

LK-H008

安裝模式

鏡面反射型

參考距離

8mm

量測範圍

±0.5 mm*1

光源

種類

紅色半導體雷射

波長

655nm

雷射等級

IEC 60825-1: 等級 1
FDA (CDRH) 21CFR Part 1040.10: 等級 II

輸出

0.3mW

光點直徑 (在參考距離上)

ø20 µm

線性度

±0.05% F.S. (F.S.=1 mm)*2

重覆精度

0.005 µm (0.001 µm)*3

取樣週期

2.55/5/10/20/50/100/200/500/1000 µs (可選擇 9 種級別)

溫度特徵

0.02% F.S./°C (F.S.=1 mm)

環境抗耐性

外殼防護等級

IP67

環境光照

白熾燈/螢光燈:最大 10,000 lux

環境溫度

0 至 +50 °C*4

相對濕度

35 至 85 % RH (無凝結)

耐振動性

10 至 55 Hz、雙倍振幅 1.5 mm、X,Y,Z 方向各 2 小時

材質

鋁鑄外殼

重量

約 240 g

*1 取樣週期在 20 µs 以上時的量測範圍。
*2 該值是指 KEYENCE 標準目標物 (僅用於 LK-H008/LK-H008W 的白色擴散反射工件或帶有金屬鏡面的工件) 在正常量測模式下的量測值。
*3 該值是指 KEYENCE 標準目標物 (僅用於 LK-H008/LK-H008W 的白色擴散反射工件或帶有金屬鏡面的工件) 在量測平均值設為 16384 的參考距離下的量測值。括弧內 的值是在量測平均值設為 65536 且取樣週期為 200 µs 時的典型量測值。
*4 當周圍溫度上升至 40 °C 以上時,必須安裝在金屬板上。

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