超高速/ 高精度 CMOS 雷射位移感測器

LK-G5000 系列

感測頭

精細量測功能提供了滿足任何量測應用的卓越性能

半透明物體 RPD* 演算法

當雷射穿透半透明物體後,會從物體表面之下產生擴散反射,引起接收光波形緩慢擴大。RPD 演算法可以消除擴大的波形帶來的影響,並檢測到實際峰值。
*RPD=Real Peak Detect

RPD 演算法

半透明物體

透明物體 多重ABLE 控制

透過感測和調整透明物體各層的反射光使雷射強度達到最佳水準。由於不受各層光反射的影響,所以可以實現高精度量測。

多重ABLE 控制

透明物體

強光澤樹脂 CPC* 演算法

透過比較來自目標物的兩種反射光波形,能夠達到更穩定的高精度量測。一種波形是表面強反射的結果,而另一種波形則是表面之下弱反射的結果。
*Center and Peak Composition

CPC* 演算法

強光澤樹脂

細紋金屬面的量測

細紋金屬面的量測

比傳統型號寬2.3 倍的寬光點*

寬光點透過計算凹凸處擴散反射的平均值,使穩定量測粗糙物的擴散反射值成為可能。
* 與LK-G35 和LK-H055 相比。

極小物體/形狀的量測

極小物體/形狀的量測

極小光點Ø25 μm

極小光點( 最小達Ø25 μm) 以精確的精度檢測細微目標物。它還適合量測外徑。

鏡面反射專用感測頭

鏡面反射專用感測頭

KEYENCE 開發了專用於鏡面反射的感測頭,將該感測頭用於鏡面反射能夠確保一致的精度。 KEYENCE 為此特別設計了光接收鏡頭光學系統,致力於大幅提高線性度。 此外,KEYENCE 透過測試製造中使用鏡面專用感測頭的線性度調整,實現了±0.02% 的F.S.。

LK-H027K

速度(m/s)、加速度(m/s2) 的量測

速度(m/s)、加速度(m/s2) 的量測

LK-G5000 具有直接量測目標物的速度(m/s) 和加速度(m/s2) 的功能。 只要選擇量測類型:“ 位移”、“速度”或“加速度”即可。由於區分工序電路在控制器內部,所以可以計算之前由外部計算的量測值。 它適用於量測接觸式感測器難以測量的輕量級、容易變形和高溫的目標物。

各階段移動量測的範例

推薦本頁訪客參考的技術資料

    量測應用指南

    量測數據庫

    最新 / 最多下載

      • General Catalog Request
      • Trade Shows and Exhibitions
      • eNews Subscribe

      位移計