台灣

透明/ 鏡面物體

透明表面/鏡面量測結果展示

鏡面反射型

LK-G5000 系列包含一組感測頭,專為玻璃或其他鏡面等高反射性物體而設計。感測頭包含寬光點和小光點等兩種類型,最適合在這些表面上進行高精度量測。

鏡面反射型

光點直徑 (寬光點型)

光點直徑 (寬光點型)

光點直徑 (小光點型)

光點直徑 (小光點型)

量測觸控面板的縫隙

這些專用感測頭中的光學系統已經過優化,可在高反射率的鏡面物體上獲得最大解析度。透過進一步改進接收光元件的功能性,現在可穩定量測 20 μm 的縫隙。

量測觸控面板的縫隙

粗糙物體

在粗糙物體上進行穩定的量測

寬光點型

看上去平整的表面在放大後就會發現有一些細微的凹凸不平。在使用一般小光點型感測器時,這些細微的瑕疵常會造成量測錯誤。透過使用寬光點的感測頭,就可以均化表面不平整的影響,即使在粗糙物體上也能實現穩定的量測。

寬光點型

光點直徑

光點直徑

金屬表面的量測

金屬表面的量測

最大限度地減少粗糙表面的不平整所造成的影響,例如拉絲金屬表面和橡膠表面等。以往前所未有的量測精度現在得以實現。

圓柱形物鏡

得益於 LK-G5000 系列中使用的高級圓柱形物鏡,整個量測範圍內的光點寬度始終保持一致。這樣即使目標距離感測頭過近或過遠,平均範圍始終不變。

精細物體

最適合精細或輪廓量測

小光點型

同級中最小的光點直徑,ø25 μm (LK-H020),可量測從精細部件到輪廓的任何目標物,精度達到同行中最高水平。

小光點型

光點直徑

光點直徑

量測 IC 針腳高度

得益於 delta cut 技術,濾光片導致的畸變被降至最低。這些對光學系統的改進意味著光點不僅在 RS-CMOS 上聚焦,在目標區域中同樣能精確聚焦。這樣就能實現之前無法完成的高精度輪廓量測。

量測 IC 針腳高度