3D 干涉式位移感測器

WI-5000 系列

  • CE Marking
  • CSA

1. 非點、非線,而是以「面」量測

針對最大10 × 10 mm 的測量區域,可瞬間獲取8萬個點的高度。由於採用白光干涉原理,不受材質、顏色、死角的影響,實現了微米級的高精度測量。

2. 於線上實現高速全數檢查

量測多點時,必須高精度且高速地掃描目標物。 因此往往會將時間耗費在移動載物台上,難以執行全數檢查。然而 WI-5000 系列以面執行同時量測,所以能夠大幅縮短量測時間,實現全數檢查。

3. 大幅減少離線檢查工時

為了在離線檢查使用,準備了固定感測頭的專用支架。 還搭載了可減少檢查工時的各種實用功能。改善從簡易量測到資料儲存等各種場合的操作性。

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