形狀測量雷射顯微鏡

VK-X 系列

解決問題

雷射掃描顯微鏡可以解決所有的課題

使用雷射顯微鏡則可全部簡單地實現

光學顯微鏡

光學顯微鏡

提昇倍率後,焦點對不齊,解析度不足。

SEM

SEM

前處理或樣品尺寸等的準備煩瑣,僅能以黑白色進行觀察。

粗糙度儀

粗糙度儀

無法實現一邊放大觀察,一邊對目標部位實施非破壞性的凹凸測量。

使用雷射顯微鏡則可全部簡單地實現

光學顯微鏡

解析度和放大倍率有限

解析度和放大倍率有限

凹陷(6000 倍)

景深較淺

景深較淺

刀刃邊緣(1000 倍)

不支援可溯性

不支援可溯性

高解析度,大動態觀察

解析度最大為 24000 倍

解析度最大為 24000 倍

光碟凹痕(6000 倍)

全對焦影像

全對焦影像

刀刃邊緣(1000 倍)

可追蹤性

可追蹤性

使用 VK 系列獲得的測量結果可靠性高, 並且符合國家標準追蹤體系。

SEM

無法辨別色彩的黑白影像

無法辨別色彩的黑白影像

墨粉(1000 倍)

準備工作和觀察耗費時間

準備工作和觀察耗費時間

受限於樣品尺寸

受限於樣品尺寸

有時候因樣品尺寸而無法放入樣品室進行觀察

近乎彩色SEM

16 位元雷射彩色觀察

16 位元雷射彩色觀察

墨粉( 1000 倍)

擺放後馬上就能進行量測分析

擺放後馬上就能進行量測分析

量測各種樣品

量測各種樣品

可分離式量測頭可以用來量測各種尺寸的樣品。量測頭可與其他元件結合使用, 支援遙控操作。

粗糙度儀

接觸式量測易導致樣品損傷

接觸式量測易導致樣品損傷

鋁表面(200 倍) 螢幕上的水平壓痕。

難以量測所需目標

難以量測所需目標

對於螺紋頂端等量測目標, 難以用觸針正確量測。

解析度受針尖直徑的限制

解析度受針尖直徑的限制

難以量測比粗糙度儀針尖直徑還細小的形狀

非破壞性輪廓和粗糙度測量

推薦本頁訪客參考的技術資料

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