形狀測量雷射顯微鏡

VK-X 系列

業界領先水準的清晰觀察

從光學觀察到如同彩色SEM 的高解析度觀察

[業界最高] 16 位元雷射彩色觀察

在大氣中以全功能覆蓋性的解析度實現全焦觀察。

光學觀察

光學觀察

全焦觀察

全焦觀察

高解析度雷射 黑白觀察

高解析度雷射 黑白觀察

[業界最高] 16 位元雷射彩色觀察

16 位元雷射彩色觀察

在大氣中以全功能覆蓋性的解析度實現全焦觀察。

透過短波長雷射全面掃描,能夠以光學顯微鏡無法實現的解析度,按200 至24000 倍率* 實現全焦觀察。

* VK-X200 系列時

光學圖像

光學圖像

雷射圖像  盤片坑(6000 倍)

雷射圖像 盤片坑(6000 倍)

近乎SEM 的解析度實現真彩觀察。

對於由雷射獲取到的各像素均已為正確對焦的高度色彩資訊,由CCD CAMERA 按每1像素分別提取,再轉換成雷射高解析度圖像。

雷射黑白圖像

雷射黑白圖像

16 位元雷射彩色圖像  墨粉(1000 倍)

16 位元雷射彩色圖像 墨粉(1000 倍)

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